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蔵書検索(OPAC)

福岡大学が所蔵する図書、雑誌、電子ブック、電子ジャーナル等を検索します。

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検索結果

本学の所蔵を検索した結果です。電子ブック・電子ジャーナルは詳細画面でURLをクリックすると利用できます。

検索キーワード：(件名: #主査教授 友景肇)

該当件数:84件

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  • 1.

    走査型レーザビーム誘起電流法を用いたシリコン貫通電極の評価 / 石本貴紘

    福岡 : 福岡大学 , 20160319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 2.

    ピエゾ抵抗内蔵TEGチップを用いたパッケージの残留応力評価 / 那波恭介

    福岡 : 福岡大学 , 20160319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 3.

    部品内蔵基板の接続信頼性評価 / 宗真太郎

    福岡 : 福岡大学 , 20150319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 4.

    インプリント技術を用いたプリント基板微細配線パターンの形成 / 新谷康成

    福岡 : 福岡大学 , 20140319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 5.

    スペクトルアナライザを用いたプラズマ状態の評価 / 吉田夢人

    福岡 : 福岡大学 , 20140319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 6.

    TEGチップを用いた銅スタッドバンプ形成時のダメージ評価 : Evalution of damage during the formation of copperstud bump using a TEG chip / 荒木翔子

    福岡 : 福岡大学 , 20130319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 7.

    TDR法を用いたシリコン貫通電極の接続不良解析 : Application of TDR method to the failure analysis of through silicon via / 大塚裕明

    福岡 : 福岡大学 , 20130319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 8.

    シリコン表面上の有機半導体薄膜成長 : Growth of organic semiconductor thin films on a silicon surface / 能方駿介

    福岡 : 福岡大学 , 20130319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 9.

    シリコンウェハ薄化時のシリコン抗折強度評価 : The evaluation of silicon wafer thinning by bending test / 牧義久

    福岡 : 福岡大学 , 20130319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 10.

    シリコン反応性イオンエッチングを用いた貫通電極の評価 : Evaluation of through silicon via TSV using deep reactive ion etching PRIE / 右山芳国

    福岡 : 福岡大学 , 20130319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 11.

    TEGチップを用いた部品内蔵基板の信頼性評価 : Reliability evaluation of embedded substrate by using TEG chips / 館伸哉

    福岡 : 福岡大学 , 20130319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 12.

    Low-k TEGを用いた基板実装評価に関する研究 / 戸髙撤哉

    福岡 : 福岡大学 , 20120319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 13.

    ガラスＴＥＧを用いたフリップチップボンディング特性評価 / 中居誠也

    福岡 : 福岡大学 , 20110319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 14.

    レーザ多点同時照射法を用いたMEMSウェハ解析システムの研究開発 / 吉田圭佑

    福岡 : 福岡大学 , 20110319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 15.

    Low-k 絶縁材料を用いたTEGウェハの応力起因による電気的特性変動評価 / 川尻剛

    福岡 : 福岡大学 , 20100319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 16.

    Low-k 絶縁材料TEGを用いた半導体実装工程でのダメージ評価 / 小杉享

    福岡 : 福岡大学 , 20100319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 17.

    Ｌｏｗ－ｋ絶縁材料を用いたＬＳＩ配線パターンの電気的特性評価 / 新谷宣明

    福岡 : 福岡大学 , 20100319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 18.

    ＴＳＶ構造シリコンインターポーザの高周波特性解析 / 林三照

    福岡 : 福岡大学 , 20100319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 19.

    半導体パッケージの動的熱解析 / 松永佳之

    福岡 : 福岡大学 , 20100319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



  • 20.

    Ｌｏｗ－ｋ絶縁材料を用いた先端ＬＳＩのボンディング工程評価 / 松本崇裕

    福岡 : 福岡大学 , 20100319. - (工学研究科電子情報工学専攻)

     修士論文



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