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Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka (eds.)
(Nanoscience and technology / series editor, P. Avouris, K. von Klitzing, R. Wiesendanger)

データ種別 図書
出版者 Berlin ; Tokyo : Springer
出版年 c2004-c2006
形態 v. : ill., port. ; 24 cm
著者標目 Bhushan, Bharat, 1949-
Fuchs, H. (Harald)
Hosaka, Sumio
件 名 LCSH:Materials -- Microscopy  全ての件名で検索
LCSH:Scanning probe microscopy
分 類 NDC9:549.97
LCC:TA417.23
DC22:620.1/1299
書誌ID LT00680577

所蔵情報を非表示

v. 2 工学部分室開架 549.97/B39/1-2 2000000023453 9783540262428




v. 3 工学部分室開架 549.97/B39/1-3 2000000023454 9783540269090




v. 4 工学部分室開架 549.97/B39/1-4 2000000023455 9783540269120





工学部分室開架 549.97/B39/1 0113302140100 9783540005278




書誌詳細を非表示

本文言語 英語
内容注記 Vol. 2. Scanning probe microscopy techniques
Vol. 3. Characterization
Vol. 4. Industrial applications
一般注記 Vol. 2-4 / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (eds.)
Includes bibliographical references and index
NCID BA65708590
巻冊次 ISBN:3540005277
v. 2 ; ISBN:3540262423 ; XISBN:9783540262428
v. 3 ; ISBN:3540269096 ; XISBN:9783540269090
v. 4 ; ISBN:3540269126 ; XISBN:9783540269120
目次/あらすじ

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