Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | San Diego ; Tokyo : Academic Press |
| 出版年 | c1997 |
| 形態 | xii, 199 p. : ill. ; 24 cm |
| 著者標目 | *Lala, Parag K., 1948- |
| 件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
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| 分 類 | NDC:549.3 LCC:TK7874.75 DC20:621.39/5/0287 |
| 書誌ID | LT00548042 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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工学部分室開架 | 549.3/L14/1 | 0111239840100 | 9780124343306 |
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| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| NCID | BA30378332 |
| 巻冊次 | ISBN:0124343309 |
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