Atom-probe field ion microscopy and its applications / Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering
(Advances in electronics and electron physics. Supplement ; 20)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Boston ; Tokyo : Academic Press |
| 出版年 | c1989 |
| 形態 | vii, 299 p. : ill. ; 24 cm |
| 著者標目 | 桜井, 敏雄(1926-) Sakai, A. Pickering, H. W. |
| 分 類 | NDC:549 |
| 書誌ID | LT00282893 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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中央自動書庫 | 549/A16-1/20 | 0108161770106 | 9780120145829 |
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| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Bibliography: p. 275-292 Includes index |
| NCID | BA06995219 |
| 巻冊次 | ISBN:0120145820 |
目次／あらすじ