Soft errors in modern electronic systems / Michael Nicolaidis, editor
(Frontiers in electronic testing ; v. 41)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Springer |
| 出版年 | c2011 |
| 形態 | xviii, 316 p. : ill. ; 25 cm |
| 著者標目 | Nicolaidis, Michael |
| 件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration
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LCSH:Electronic apparatus and appliances -- Effect of radiation on 全ての件名で検索 LCSH:Software failures |
| 分 類 | NDC9:549.7 DC22:621.395 |
| 書誌ID | LT00829430 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| cased | 工学部分室開架 | 549.7/N71/1 | 2000000170404 | 9781441969927 |
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| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| NCID | BB04288364 |
| 巻冊次 | cased ; ISBN:9781441969927 |
目次／あらすじ