High-level test synthesis of digital VLSI circuits / Mike Tien-Chien Lee
(The Artech House solid-state technology library)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Boston : Artech House |
出版年 | c1997 |
形態 | xi, 220 p. : ill. ; 24 cm |
著者標目 | *Lee, Mike Tien-Chien |
件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Data processing
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LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing 全ての件名で検索 LCSH:Computer-aided design LCSH:Digital integrated circuits -- Testing -- Data processing 全ての件名で検索 |
分 類 | NDC:549.3 LCC:TK7874.75 DC21:621.39/5 |
書誌ID | LT00538658 |
所蔵情報を非表示
状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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工学部分室開架 | 549.3/L51/1 | 0111097700100 | 9780890069073 |
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書誌詳細を非表示
本文言語 | 英語 |
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一般注記 | Bibliography: p. 199-214 Includes index |
NCID | BA30062190 |
巻冊次 | ISBN:0890069077 |
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