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Built-in test for VLSI : pseudorandom techniques / Paul H. Bardell, William H. McAnney, Jacob Savir

データ種別	図書
出版者	New York : J. Wiley
出版年	c1987
形態	xiii, 354 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	Bardell, Paul H. McAnney, William H. Savir, Jacob
件　名	Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing 全ての件名で検索
分　類	NDC:549.3 DDC:621.381/73 LCC:TK7874
書誌ID	LT00283224

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状　態	巻　次	所　在	請求記号	資料番号	ISBN	刷　年	コメント	利用注記	予約・取寄	お薦めの本	自動書庫	付録注記
		中央自動書庫	549.3/B21-1/1	0108162970109	9780471624639				予約・取寄				予約・取寄

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本文言語	英語
一般注記	"A Wiley-Interscience publication." Bibliography: p. 339-345 Includes index
NCID	BA03837947
巻冊次	ISBN:0471624632

目次／あらすじ