Reliability of high mobility SiGe channel MOSFETs for future CMOS applications / Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken
(Advanced microelectronics ; 47)
| データ種別 | 図書 |
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| 出版者 | Dordrecht : Springer |
| 出版年 | c2014 |
| 形態 | xix, 187 p. : ill. ; 25 cm |
| 著者標目 | *Franco, Jacopo Kaczer, Ben Groeseneken, Guido |
| 件 名 | LCSH:Metal oxide semiconductor field-effect transistors -- Reliability
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LCSH:Metal oxide semiconductors, Complementary -- Reliability 全ての件名で検索 |
| 分 類 | NDC9:549.7 DC23:621.3815284 |
| 書誌ID | LT00959477 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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工学部分室開架 | 549.7/F43/1 | 2000000321913 | 9789400776623 |
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| 本文言語 | 英語 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references |
| 巻冊次 | ISBN:9789400776623 |
目次／あらすじ