Contamination control in trace element analysis / Morris Zief, James W. Mitchell
(Chemical analysis ; v. 47)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : J. Wiley |
| 出版年 | c1976 |
| 形態 | xiv, 262 p. : ill. ; 24 cm |
| 著者標目 | Zief, Morris Mitchell, James W. |
| 件 名 | Trace elements -- Analysis
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Contamination (Technology) |
| 分 類 | NDC:433 DDC:545 LCC:QD139.T7 |
| 書誌ID | LT00191902 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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中央自動書庫 | 433/Z4/1 | 0103818310105 | 9780471611691 |
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書誌詳細を非表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Includes bibliographical references and index |
| NCID | BA04611429 |
| 巻冊次 | ISBN:0471611697 |
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