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Charged semiconductor defects : structure, thermodynamics and diffusion / Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer
(Engineering materials and processes)

データ種別	図書
出版者	London : Springer
出版年	c2009
形態	xiv, 294 p. : ill. ; 25 cm
著者標目	*Seebauer, Edmund G. Kratzer, Meredith C.
件　名	LCSH:Semiconductors -- Defects 全ての件名で検索
分　類	NDC9:549.8 LCC:QC611.6.D4 DC22:621.38152
書誌ID	LT00797097

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状　態	巻　次	所　在	請求記号	資料番号	ISBN	刷　年	コメント	利用注記	予約・取寄	お薦めの本	自動書庫	付録注記
		工学部分室開架	549.8/SE15/1	2000000135621	9781848820586				予約・取寄				予約・取寄

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本文言語	英語
一般注記	Includes bibliographical references and index
NCID	BA89793550
巻冊次	ISBN:9781848820586

目次／あらすじ