X線吸収微細構造 : XAFSの測定と解析 / 宇田川康夫編
(日本分光学会測定法シリ-ズ ; 26)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 学会出版センタ- |
| 出版年 | 1993.2 |
| 形態 | x,222p ; 21cm |
| 著者標目 | 宇田川, 康夫 |
| 件 名 | エックス線分光分析 |
| 分 類 | NDC:433.58 NDC:433.5 |
| 書誌ID | LT00417026 |
所蔵情報を非表示
| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
中央自動書庫 | 433.5/N77/1-26+2 | 0109407580007 | 9784762257087 |
|
|
|
|
|
|||
|
|
理学部分室開架 | 433.5/N77/1-26 | 0109407570001 | 9784762257087 |
|
|
|
|
|
|||
|
|
理学部分室開架 | 433.5/N77/1-26+3 | 0109407590002 | 9784762257087 |
|
|
|
|
|
|||
|
|
理学部分室開架 | 433.58/U26/1 | 0109958570008 | 9784762257087 |
|
|
|
|
|
書誌詳細を非表示
| 本文言語 | 日本語 |
|---|---|
| 一般注記 | 参考文献:p219-220 |
| NCID | BN08713353 |
| 巻冊次 | ISBN:4762257087 |
目次／あらすじ