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走査トンネル顕微鏡(STM)を用いた弾道電子放出顕微(BEEM)測定法の実現とその応用 / 中村公彦
(工学研究科電子工学専攻)

データ種別 修士論文
出版者 福岡 : 福岡大学
出版年 20040322
著者標目 中村, 公彦
件 名 FREE:主査教授 友景肇
書誌ID LT00711586

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工学部分室開架 2003/TO62/5 1000000003483


禁帯出

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本文言語 日本語
一般注記 公開範囲 学内限定