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電子ビーム走査によるトレンチ構造を有するMOSFET欠陥の評価 / 石渡幸也
(工学研究科電子工学専攻)

データ種別 修士論文
出版者 福岡 : 福岡大学
出版年 19990319
著者標目 石渡, 幸也
件 名 FREE:主査教授 友景肇
書誌ID LT00773205

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工学部分室開架 1998/TO62/1 1000000002377


禁帯出

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本文言語 日本語
一般注記 公開範囲 制限なし