Characterization of organic thin films / [Abraham Ulman] ; editors, Yale Strausser and Gray E. McGuire
(Materials characterization series : surfaces, interfaces, thin films / series editors, C. Richard Brundle, Charles A. Evans, Jr.)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York, N.Y. : Momentum Press |
| 出版年 | c2010 |
| 形態 | xvii, 276 p. : ill. ; 24 cm |
| 著者標目 | Ulman, Abraham, 1946- Strausser, Yale McGuire, Gray E. |
| 分 類 | NDC9:431.86 |
| 書誌ID | LT00834597 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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工学部分室開架 | 431.86/U61/1 | 2000000178137 | 9781606500446 |
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書誌詳細を非表示
| 本文言語 | 英語 |
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| 一般注記 | "First published by Butterworth-Heinemann in 1995" -- T.p. verso Includes bibliographical references and index |
| NCID | BB04790664 |
| 巻冊次 | ISBN:9781606500446 ; XISBN:1606500449 |
目次／あらすじ