Royal Microscopical Society-John Wiley series
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Hoboken, N.J. : Wiley |
| 別書名 | 異なりアクセスタイトル:RMS-Wiley series |
| 書誌ID | LT01036548 |
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| 1 | Electron beam-specimen interactions and simulation methods in microscopy / Budhika G. Mendis :Hardback. - Hoboken, NJ : J. Wiley , 2018 |
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| 本文言語 | und |
|---|---|
| NCID | BB26612273 |