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VLSI design and test for systems dependability / Shojiro Asai, editor

データ種別	図書
出版者	Tokyo : Springer
出版年	c2019
形態	xvii, 800 p. : ill. (some col.) ; 25 cm
著者標目	Asai, Shojiro
件　名	LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration 全ての件名で検索
分　類	NDC9:549.7 DC23:621.395
書誌ID	LT01035878

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状　態	巻　次	所　在	請求記号	資料番号	ISBN	刷　年	コメント	利用注記	予約・取寄	お薦めの本	自動書庫	付録注記
		工学部分室開架	549.7/A83/1	2000000371686	9784431565925				予約・取寄				予約・取寄

書誌詳細を非表示

本文言語	英語
一般注記	Includes bibliographical references and index
NCID	BB27514542
巻冊次	ISBN:9784431565925

目次／あらすじ