Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials / edited by Mario Lanza
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Weinheim : Wiley-VCH |
| 出版年 | c2017 |
| 形態 | xix, 361 p. : ill. (some col.) ; 25 cm |
| 著者標目 | Lanza, Mario |
| 件 名 | LCSH:Nanostructured materials -- Electric properties
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LCSH:Atomic force microscopy |
| 分 類 | NDC9:549.97 NDC9:460.75 DC23:620.11297 |
| 書誌ID | LT01026496 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| : hbk | 理学部分室開架 | 549.97/L28/1 | 2000000357231 | 9783527340910 |
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| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| NCID | BB27048905 |
| 巻冊次 | : hbk ; ISBN:9783527340910 |
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