CMOS test and evaluation : a physical perspective / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Springer |
| 出版年 | c2015 |
| 形態 | xiii, 424 p. : ill. ; 25 cm |
| 著者標目 | *Bhushan, Manjul Ketchen, Mark B. |
| 件 名 | LCSH:Electronics LCSH:Engineering LCSH:System safety LCSH:Systems engineering FREE:Circuits and Systems FREE:Electronics and Microelectronics, Instrumentation FREE:Quality Control, Reliability, Safety and Risk FREE:Semiconductors |
| 分 類 | NDC9:549.7 LCC:TK7874 DC23:621.381 |
| 書誌ID | LT00995768 |
所蔵情報を非表示
| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| : hardcover | 工学部分室開架 | 549.7/B39/2 | 2000000312233 | 9781493913480 |
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書誌詳細を非表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| NCID | BB23138314 |
| 巻冊次 | : hardcover ; ISBN:9781493913480 |
目次／あらすじ
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