Field emission scanning electron microscopy : new perspectives for materials characterization / Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin
(Springer briefs in applied sciences and technology)
| データ種別 | 図書 |
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| 出版者 | Singapore : Springer |
| 出版年 | c2018 |
| 形態 | xii, 137 p. : ill. (some col.) ; 24 cm |
| 著者標目 | Brodusch, Nicolas Demers, Hendrix Gauvin, Raynald |
| 分 類 | NDC9:549.97 |
| 書誌ID | LT00989980 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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工学部分室開架 | 549.97/B75/1 | 2000000354630 | 9789811044328 |
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| 本文言語 | 英語 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| 巻冊次 | ISBN:9789811044328 |
目次／あらすじ