ハンドウタイ ザイリョウ デバイス ノ ヒョウカ : パラメータ ソクテイ ト カイセキ ヒョウカ ノ ジッサイ
半導体材料・デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際 / ディーター・K・シュロゥダー著 ; 嶋田恭博訳
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : シーエムシー出版 |
| 出版年 | 2012.5 |
| 形態 | vii, 583p ; 21cm |
| 別書名 | 原タイトル:Semiconductor material and device characterization 異なりアクセスタイトル:半導体材料デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際 |
| 著者標目 | Schroder, Dieter K. 嶋田, 恭博 <シマダ, ヤスヒロ> |
| 件 名 | BSH:半導体 |
| 分 類 | NDC9:549.8 NDC8:549.8 |
| 書誌ID | LT00957710 |
所蔵情報を非表示
| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
工学部分室開架 | 549.8/SC7/1 | 2000000319400 | 9784781304793 | 2015 |
|
|
|
|
書誌詳細を非表示
| 本文言語 | 日本語 |
|---|---|
| 一般注記 | 文献: 章末 原著第3版 (J.Wiley, c2006) の翻訳 |
| NCID | BB09175332 |
| 巻冊次 | ISBN:9784781304793 |
目次／あらすじ
類似資料
この資料を見た人はこんな資料も見ています
この資料の利用統計
このページへのアクセス回数：2回
※2020年8月以降