In-situ electron microscopy : applications in physics, chemistry and materials science / edited by Gerhard Dehm, James M. Howe, and Josef Zweck
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Weinheim : Wiley-VCH |
| 出版年 | c2012 |
| 形態 | xviii, 383 p. : ill. (some col.) ; 25 cm |
| 著者標目 | Dehm, Gerhard Howe, James M., 1955- Zweck, Josef |
| 件 名 | LCSH:Electron microscopy |
| 分 類 | NDC9:549.97 DC23:502.825 |
| 書誌ID | LT00903156 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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工学部分室開架 | 549.97/D53/1 | 2000000238906 | 9783527319732 |
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書誌詳細を非表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| NCID | BB09129991 |
| 巻冊次 | ISBN:9783527319732 |
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