Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer
(Springer series in optical sciences ; v. 45)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 版 | 2nd completely revised and updated ed |
| 出版者 | Berlin ; Tokyo : Springer |
| 出版年 | c1998 |
| 形態 | xiv, 527 p. : ill. ; 25 cm |
| 著者標目 | *Reimer, Ludwig, 1928- |
| 件 名 | LCSH:Scanning electron microscopy |
| 分 類 | NDC9:549.97 LCC:QH212.S3 DC21:502/.8/25 |
| 書誌ID | LT00886631 |
所蔵情報を非表示
| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| : hardcover | 理学部分室開架 | 549.97/R25/1 | 2000000225394 | 9783540639763 |
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書誌詳細を非表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references (p. [449]-514) and index |
| NCID | BA37992011 |
| 巻冊次 | : hardcover ; ISBN:3540639764 |
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