Life-cycle assessment of semiconductors / by Sarah B. Boyd ; foreword by Arpad Horvath
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Springer |
| 出版年 | c2012 |
| 形態 | xxvii, 226 p. : ill. ; 25 cm |
| 著者標目 | *Boyd, Sarah B. Horvath, Arpad |
| 件 名 | LCSH:Microprocessors -- Evaluation
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LCSH:Product life cycle |
| 分 類 | NDC9:548.22 DC22:004.16 |
| 書誌ID | LT00883784 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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工学部分室開架 | 548.22/B69/1 | 2000000221309 | 9781441999870 |
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| 本文言語 | 英語 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references (p. 213-219) and index |
| NCID | BB08480217 |
| 巻冊次 | ISBN:9781441999870 ; XISBN:1441999876 |
目次／あらすじ