Trap level spectroscopy in amorphous semiconductors / Victor I. Mikla and Victor V. Mikla
(Elsevier insights)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | London : Elsevier |
| 出版年 | 2010 |
| 形態 | vi, 120 p. : ill. ; 24 cm |
| 著者標目 | *Mikla, Victor I. Mikla, Victor V. |
| 件 名 | LCSH:Amorphous semiconductors -- Spectra
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LCSH:Amorphous semiconductors -- Defects -- Analysis 全ての件名で検索 LCSH:Deep level transient spectroscopy |
| 分 類 | NDC9:549.8 DC22:537.6223 |
| 書誌ID | LT00831365 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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工学部分室開架 | 549.8/MI24/1 | 2000000172529 | 9780123847157 |
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| 本文言語 | 英語 |
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| NCID | BB03557165 |
| 巻冊次 | ISBN:9780123847157 |
目次／あらすじ