Minimizing and exploiting leakage in VLSI design / Nikhil Jayakumar ... [et al.]
データ種別 | 図書 |
---|---|
出版者 | New York ; London : Springer |
出版年 | c2010 |
形態 | xxvii, 214 p. : ill. ; 24 cm |
著者標目 | Jayakumar, Nikhil Paul, Suganth Garg, Rajesh Gulati, Kanupriya Khatri, Sunil P. |
件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design 全ての件名で検索 |
分 類 | NDC9:549.7 DC22:621.395 |
書誌ID | LT00830624 |
所蔵情報を非表示
状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
工学部分室開架 | 549.7/J29/1 | 2000000171838 | 9781441909497 |
|
|
|
|
|
書誌詳細を非表示
本文言語 | 英語 |
---|---|
一般注記 | Includes bibliographical references and index Other authors: Suganth Paul, Rajesh Garg, Kanupriya Gulati, Sunil P. Khatri |
NCID | BB00874966 |
巻冊次 | ISBN:9781441909497 |
目次/あらすじ
類似資料
この資料の利用統計
このページへのアクセス回数:1回
※2020年8月以降