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Lock-in thermography : basics and use for functional diagnostics of electronic components / O. Breitenstein, M. Langenkamp
(Advanced microelectronics / series editors, K. Itoh ... [et al.] ; 10)

データ種別	図書
出版者	Berlin ; Tokyo : Springer
出版年	c2003
形態	viii, 193 p. : ill. (some col.) ; 24 cm
著者標目	*Breitenstein, O. (...Otwin...) Langenkamp, M. (...Martin...), 1964-
件　名	LCSH:Electronic apparatus and appliances -- Thermal properties  全ての件名で検索 LCSH:Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Thermographic methods  全ての件名で検索 LCSH:Semiconductors -- Thermal properties  全ての件名で検索 LCSH:Semiconductors -- Testing -- Thermographic methods  全ての件名で検索
分　類	NDC9:549.8 DC21:621.381548
書誌ID	LT00686251

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