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A unified approach for timing verification and delay fault testing / Mukund Sivaraman and Andrzej J. Strojwas

データ種別	図書
出版者	Boston : Kluwer Academic Pub.
出版年	c1998
形態	xv, 155 p. : ill. ; 25 cm
著者標目	*Sivaraman, Mukund, 1970- Strojwas, Andrzej J.
件　名	LCSH:Digital integrated circuits -- Design and construction -- Data processing  全ての件名で検索 LCSH:Digital integrated circuits -- Testing  全ての件名で検索 LCSH:Electric fault location LCSH:Integrated circuits -- Verification  全ての件名で検索
分　類	NDC:549.3 LCC:TK7874.65 DC21:621.39/5/0287
書誌ID	LT00545191

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