Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis / Wayne Nelson
(Wiley series in probability and mathematical statistics ; Applied probability and statistics)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | New York : J. Wiley |
出版年 | c1990 |
形態 | xiv, 601 p. : ill. ; 25 cm |
著者標目 | Nelson, Wayne, 1936- |
件 名 | Failure time data analysis Reliability (Engineering) -- Statistical methods 全ての件名で検索 Accelerated life testing -- Statistical methods 全ての件名で検索 |
分 類 | NDC:417.5 NDC:417.08 |
書誌ID | LT00320478 |
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状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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中央自動書庫 | 417.5/N63/1 | 010854446010X | 9780471522775 |
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中央自動書庫 | 417.08/W73/207 | 010855484010X | 9780471522775 |
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書誌詳細を非表示
本文言語 | 英語 |
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一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Bibliography: p. 561-577 Includes index |
NCID | BA10134812 |
巻冊次 | ISBN:0471522775 |
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