Metrology of optoelectronic systems : 21-22 May 1987, Orlando, Florida / Edward M. Granger, chair/editor ; sponsored by SPIE, the International Society for Optical Engineering ; cooperating organizations, Center for Applied Optics/University of Alabama in Huntsville ... [et al.]
(Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering ; v. 776)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Bellingham, Wash. : SPIE |
出版年 | c1987 |
形態 | vi, 123 p. : ill. ; 28 cm |
著者標目 | Granger, Edward M. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers University of Alabama in Huntsville. Center for Applies Optics |
件 名 | FREE:Optoelectronic devices -- Measurement -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | NDC:549 |
書誌ID | LT00279542 |
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状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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中央自動書庫 | 549/G77/1 | 010809182010X | 9780892528110 |
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本文言語 | 英語 |
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一般注記 | Includes bibliographies and index |
NCID | BA0711948X |
巻冊次 | ISBN:0892528117 |
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