電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法 / 副島啓義著
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 日刊工業新聞社 |
| 出版年 | 1987.2 |
| 形態 | 597,5p ; 27cm |
| 著者標目 | 副島, 啓義(1939-) |
| 件 名 | 光学分析 エックス線分光分析 微量分析 |
| 分 類 | NDC:433.5 |
| 書誌ID | LT00220766 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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薬学部分室開架 | 433.5/SO22/1+2 | 0107302590000 | 9784526021008 |
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工学部分室開架 | 433.5/SO22/1 | 0107283310001 | 9784526021008 |
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書誌詳細を非表示
| 本文言語 | 日本語 |
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| 一般注記 | 文献: p 592-597 |
| NCID | BN00749109 |
| 巻冊次 | ISBN:4526021008 |
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