Short wavelength microscopy / edited by Donald F. Parsons
(Annals of the New York Academy of Sciences ; v. 306)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | New York : New York Academy of Sciences |
出版年 | 1978 |
形態 | 339 p. : ill. ; 23 cm |
著者標目 | Parsons, Donald F. New York Academy of Sciences |
件 名 | LCSH:Electron microscopy -- Congresses
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分 類 | NDC:549.513 LCC:Q11 LCC:QH212.E4 DC:508/.1 s DC:502/.8 |
書誌ID | LT00186987 |
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状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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薬学部分室開架 | 549.513/P25/1 | 0104320120107 | 9780890720622 |
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本文言語 | 英語 |
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一般注記 | Papers presented at a workshop held by the New York Academy of Sciences, February 23-25, 1977 Includes bibliographical references |
NCID | BA24993496 |
巻冊次 | ISBN:0890720622 |
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