微量・超微量分析マニュアル / Morris Zief,James W.Mitchell原著 ; 海外技術資料研究所訳編
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 海外技術資料研究所 |
| 出版年 | 1978.3 |
| 形態 | 256p ; 26cm |
| 著者標目 | Zief, Morris Mitchell, James W. 海外技術資料研究所 |
| 件 名 | 微量分析 |
| 分 類 | NDC:433 |
| 書誌ID | LT00021032 |
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| 状 態 | 巻 次 | 所 在 | 請求記号 | 資料番号 | ISBN | 刷 年 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | お薦めの本 | 自動書庫 | 付録注記 |
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中央自動書庫 | 433/Z4/2 | 0104179650001 |
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禁帯出 |
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| 本文言語 | 日本語 |
|---|---|
| 一般注記 | 各章末:参考文献 Contamination control in trace element analysis.の翻訳 |
| NCID | BN03395545 |
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